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顯微鏡
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上海光學(xué)儀器廠

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晶粒度檢測(cè)

  晶粒度檢測(cè) 晶粒度(grain size)—用于描述晶粒大小的參數(shù),常用的表示方法:?jiǎn)挝惑w積的晶粒數(shù)目(ZV);或單位面積內(nèi)的晶粒數(shù)目(ZS)或晶粒的平均線長(zhǎng)度(或直徑)表示。 晶粒度可用晶粒的平均面積或平均直徑表示。
  工業(yè)生產(chǎn)上采用晶粒度等級(jí)來(lái)表示晶粒大小。標(biāo)準(zhǔn)晶粒度共分8級(jí),1-4級(jí)為粗晶粒,5-8級(jí)為細(xì)晶粒。  一般晶粒度越大,也就是越細(xì)越好。
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上海光學(xué)儀器廠是國(guó)內(nèi)較早成立大型綜合類光學(xué)儀器的生產(chǎn)企業(yè),以顯微鏡、光學(xué)儀器、測(cè)量工具顯微鏡、生物顯微鏡、測(cè)量投影儀、影像測(cè)量?jī)x、工具顯微鏡、分光光度計(jì)、折射儀等見長(zhǎng),在國(guó)內(nèi)久負(fù)盛名。上海顯微鏡企業(yè)全面改制后,開發(fā)了與電腦……

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